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リコーエレメックス株式会社

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国際画像機器展2014(12/3~5)に外観画像検査システムを出展します

2014年11月10日

12月3日~5日の3日間にわたってパシフィコ横浜(横浜市西区みなとみらい)で開催される「国際画像機器展2014」に、外観画像検査システムを出展します。この外観画像検査システムは時間相関技術を応用し、塗装外観不良の検出を正確に行うもので、弊社デモブースで参考出品します。また、12/4(11:30~12:20)には展示会場内セミナールーム(講演ID:I-420)で「東大開発 時間相関カメラの機能説明とリコーエレメックスによる塗装検査への応用」と題した講演を行います。リコーエレメックスの画像認識技術「REX EYE」は新たな進化を始めています。東京大学、高知工科大学との共同研究を行い、従来のFAカメラとは異なる、外観検査用カメラシステムを創出しました。これにより外観不良検出を確実にしています。今回は本システムの原理、塗装検査への自動検査の応用事例として、今までは難しいとされていた小型曲面塗装部品について、塗装欠陥を検出するシステムについてご紹介します。是非、ご来場ください。